Messehighlight 03. April 2025
Technische Sauberkeit braucht FT-IR | Weil Rückstände nicht nur Spuren, sondern Folgen haben.
Technische Sauberkeit ist ein entscheidender Faktor für Funktion, Sicherheit und Langlebigkeit von Bauteilen. Wer Rückstände, Partikel oder Verschleppungen nicht erkennt, riskiert Ausfälle, Reklamationen und hohe Kosten. Rückstände müssen sichtbar und chemisch verständlich gemacht werden – präzise, zerstörungsfrei und reproduzierbar.
Das LUMOS II FT-IR Mikroskop von Bruker erfüllt genau diesen Anspruch. Es ermöglicht die schnelle und zuverlässige Identifikation von Partikeln und Verunreinigungen auf Bauteilen, direkt an der Oberfläche. Die chemische Analyse erfolgt punktgenau und ohne aufwendige Probenvorbereitung – ideal für Qualitätssicherung, Schadensanalyse und Prozessoptimierung.
Typische Anwendungen:
- Chemische Identifikation von Einzelpartikeln
- Analyse von Verschmierungen, Rückständen und Ablagerungen
- Nachweis und Aufklärung von Verschleppungen in Prozessen
- Prüfung der technischen Sauberkeit an Leiterplatten und Steckverbindungen
- Kontrolle mechanischer Komponenten – zerstörungsfrei und effizient
Das LUMOS II kombiniert hochauflösende FT-IR-Spektroskopie mit vollautomatisierter Mikroskopie und einfacher Bedienung. Anwender profitieren von reproduzierbaren Ergebnissen und klar interpretierbaren Daten – unabhängig vom Erfahrungslevel.
Sprechen Sie uns auf diese Highlights an:
- Die ATR-Messmethode mit robustem, hochwertigem Kristall – für maximale Signalqualität auch bei kleinsten Proben.
- Den praxisorientierten TE-MCT-Detektor, der hohe Sensitivität mit einfacher Handhabung vereint.
Das LUMOS II FT-IR Mikroskop von Bruker erfüllt genau diesen Anspruch. Es ermöglicht die schnelle und zuverlässige Identifikation von Partikeln und Verunreinigungen auf Bauteilen, direkt an der Oberfläche. Die chemische Analyse erfolgt punktgenau und ohne aufwendige Probenvorbereitung – ideal für Qualitätssicherung, Schadensanalyse und Prozessoptimierung.
Typische Anwendungen:
- Chemische Identifikation von Einzelpartikeln
- Analyse von Verschmierungen, Rückständen und Ablagerungen
- Nachweis und Aufklärung von Verschleppungen in Prozessen
- Prüfung der technischen Sauberkeit an Leiterplatten und Steckverbindungen
- Kontrolle mechanischer Komponenten – zerstörungsfrei und effizient
Das LUMOS II kombiniert hochauflösende FT-IR-Spektroskopie mit vollautomatisierter Mikroskopie und einfacher Bedienung. Anwender profitieren von reproduzierbaren Ergebnissen und klar interpretierbaren Daten – unabhängig vom Erfahrungslevel.
Sprechen Sie uns auf diese Highlights an:
- Die ATR-Messmethode mit robustem, hochwertigem Kristall – für maximale Signalqualität auch bei kleinsten Proben.
- Den praxisorientierten TE-MCT-Detektor, der hohe Sensitivität mit einfacher Handhabung vereint.
Bruker Optics GmbH & Co. KG
Ansprechpartner
Herr Dr. Simon Hugo Schlindwein